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7月30日〜8月1日 「第19回マイクロマシン展／MEMS展」（東京ビッグサイト）
2007.11.22
ＰＤＦカタログにチップ外観検査装置Vi-3200を追加しました。〔PDF:1,205KB〕
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2007.11.16
EBスコープ EBS3000を追加しました。
2007.09.21
光学ユニット
と
光学部品
を更新しました。
「超低輝度分光放射計 SR−UL1」が第12回アドバンスト ディスプレイ オブ ザ イヤー〜ADY2007〜の検査・リペア・測定部門でグランプリを受賞
2008.4.11
SPIE2008においてNGR2100事例発表、好評を博す
2008.4.8
低輝度(黒）測定装置のラインアップ拡大
2008.3.28
チップ外観検査装置（Viシリーズ）台湾市場で受注拡大
2008.3.12
ウエハ基板電流測定装置（EB-Scope）の開発に成功
